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    LED常規(guī)性老化試驗對比

       
        發(fā)布日期:2008-09-20         
    閱讀:90     
     
     

    一般來說,尤其是大功率LED在初始點亮階段光度都會有一定的衰減,LED封裝廠為了提供給應(yīng)用端廠商發(fā)光穩(wěn)定的產(chǎn)品,或者是應(yīng)用端廠商家為了獲得穩(wěn)定的LED材料,通常都會做一些老化試驗。當(dāng)然LED老化試驗有多種方式,如常規(guī)性老化、過電流沖擊破壞性試驗等等。

    LED廠商通常會用以下幾種方式進(jìn)行常規(guī)性老化:

    1、多顆管串聯(lián)老化:恒壓老化電路和恒流老化電路
    2、多顆管并聯(lián)老化
    3、多顆管串并聯(lián)老化:串并恒壓老化和串并恒流老化
    4、單管恒流老化

    比較以上4種老化方式, 1、3種方式中只要有一顆LED出現(xiàn)品質(zhì)故障,比如LED短路或者斷路都會影響別的LED的工作電流參數(shù)。第2種方式優(yōu)于1、3種,任一顆LED特性變化不會影響到別的LED老化參數(shù),但事實上靠電阻限流的方式是不可靠的,電阻本身阻值漂移和LED自身電壓特性變化都會嚴(yán)重影響LED參數(shù)。顯然,第4種單管恒流老化抓住了LED電流工作特性,是最科學(xué)的LED老化方式。

    老化在試驗過程中應(yīng)該是一個非常重要的過程,但在很多企業(yè)往往會被忽視,不能進(jìn)行正確有效的老化,后面對LED本身所進(jìn)行的包括亮度、波長等所有參數(shù)的分析都將不確定。過電流沖擊性老化也是廠家經(jīng)常使用的一種老化手段,通常使用頻率可調(diào)、電流可調(diào)并且占空比可調(diào)的恒流源進(jìn)行此類老化,以期待短時間內(nèi)判斷LED的品質(zhì)及預(yù)期壽命。

     

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